美國(guó)路陽 晶圓缺陷黃綠光表面檢查燈LUYOR-3325G

wafer晶圓顆粒缺陷檢查燈LUYOR-3325G系列是一款黃綠光表面檢查燈，檢測(cè)燈的原理利用適合的LED燈源，通過led發(fā)光，經(jīng)過光學(xué)透鏡聚焦的光源，照在工件表面折射出光路，使得操作員肉眼可識(shí)別出工件表面的灰塵、刮痕、毛刺、凹凸、油墨等瑕疵點(diǎn)，取代傳統(tǒng)的照明設(shè)備和光學(xué)系統(tǒng)機(jī)臺(tái)，直接通過照明光線和肉眼，觀測(cè)出一般玻璃表面、部件表面的瑕疵，極大的節(jié)省了一般工廠的采購成本。 LUYOR-3325G檢查燈采用人眼最敏感580NM之間波長(zhǎng)光，來做zui簡(jiǎn)單與明確的判別，可檢查到1um以下的刮痕或微粒子，幾乎可檢測(cè)出所有塵埃，大大降低產(chǎn)品不良率。使用壽命為2萬小時(shí)以上。光源強(qiáng)度可達(dá)30萬LX，最小可以檢測(cè)1μ的表面臟污，比傳統(tǒng)的檢查燈，效用增強(qiáng)10倍.LUYOR-3325G可根據(jù)使用場(chǎng)景，使用便攜手持式或桌面式（安裝再臺(tái)式支架上）。

LUYOR-3325G為交流電源供電，可以手持式操作，也可以臺(tái)式操作。

LUYOR-3325GD為鋰電池供電，可以手持式操作，也可以臺(tái)式操作。

晶圓檢測(cè)：用于晶圓測(cè)試的黃綠光LED檢測(cè)燈,LUYOR-3325G專為晶圓質(zhì)量保證和測(cè)試而設(shè)計(jì)的光學(xué)晶圓檢測(cè)設(shè)備。

使用美國(guó)路陽 晶圓缺陷黃綠光表面檢查燈進(jìn)行晶圓檢測(cè)：

• 使用無紫外線輻射的黃綠光燈進(jìn)行晶圓檢測(cè)

• 更換用于晶圓檢測(cè)的紫外燈

• 在不使用汞蒸氣燈的情況下測(cè)試晶圓

• 設(shè)計(jì)為濾波綠光燈或?yàn)V光黃光燈，用于晶圓檢測(cè)

• 使用無紫外線和無汞的SECU-CHEK晶圓測(cè)試燈進(jìn)行晶圓表面檢測(cè)

為什么使用LUYOR-3325G半導(dǎo)體檢測(cè)燈進(jìn)行晶圓表面檢測(cè)？

• 晶圓生產(chǎn)所需的高工藝可靠性

• 需要經(jīng)濟(jì)高效且無gu障的測(cè)試操作

• 晶圓測(cè)試對(duì)于晶圓制備和芯片生產(chǎn)的進(jìn)一步成本密集型步驟至關(guān)重要

• 根據(jù)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)要求的專業(yè)解決方案

晶圓生產(chǎn)中存在哪些誤差，LUYOR-3325G半導(dǎo)體檢測(cè)燈的識(shí)別能力如何？

• 使用過濾后的黃光燈可以很好地檢測(cè)到晶圓的缺陷

• 通過晶圓測(cè)試檢測(cè)夾雜物

• 通過目視晶圓測(cè)試檢測(cè)污染物

• 用黃綠光觀察生長(zhǎng)障礙

• 在光學(xué)晶圓測(cè)試期間識(shí)別面紗

• 使用LUYOR晶圓檢測(cè)燈分析條紋

• 與用于晶圓測(cè)試的紫外燈和汞燈相比，可以更好地檢測(cè)微觀結(jié)構(gòu)

• 通過晶圓檢測(cè)檢測(cè)生長(zhǎng)孔

• 檢查黃綠色燈的高對(duì)比度邊緣變平

• 在光學(xué)晶圓檢測(cè)中可以發(fā)現(xiàn)邊緣干擾

• 使用晶圓上的質(zhì)量檢測(cè)燈檢測(cè)結(jié)構(gòu)變化

• 使用紫外黃光和綠光燈檢測(cè)晶圓生產(chǎn)中的夾雜物

• 用過濾后的黃光燈識(shí)別不均勻